FJ1200環(huán)境級X、γ輻射測量?jì)x主要用于環(huán)境輻射本底以及低水平X、γ輻射的準確，快速測量,儀器采用NaI晶體作為探測器，具有靈敏度高的特性。儀器攜帶方便，易于操作。本儀表可用于環(huán)保部門(mén)檢測環(huán)境本底情況，醫院人員監測射線(xiàn)醫療設備附近本底，無(wú)損檢驗(即射線(xiàn)探傷)裝置是否有輻射泄漏，核電站附近居民區環(huán)境本底測量，農業(yè)部門(mén)的輻照育種設備是否有輻射泄漏。

【技術(shù)指標】 

輻射類(lèi)型：X，γ

探測器：Φ50 × 40 mm，NaI（Tl）晶體 

測量范圍：0.01 ~ 200μSv/h 

測量精度：± 10%（100 μSv/h，137Cs） 

能量響應： 40 keV ~ 1.3 MeV

響應時(shí)間：< 3 s 

工作時(shí)間：4節AA1.5V電池 

機械尺寸：主機：寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm 

探頭：Φ 60 × 254 mm（不含手柄）

【應用范圍】

環(huán)境監測機構，醫院輻射醫療設備操作管理人員，射線(xiàn)探傷裝置的操作和管理人員，經(jīng)常需要使用放射源的劑量刻度站和研究核輻射和輻射儀表的科研人員等。